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TLD检测器
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TLD检测器是从传统的二极管阵列检测器改良而来。PRIN-CEN推出的Trace Light Detector充分了解痕量六价铬分析项目对仪器的要求,并深入研究了二极管阵列检测器光路设计,按照痕量六价铬分析的要求对硬件和软件都进行了改良。实践证明Trace Light Detector具有出色的灵敏度和超强的抗干扰能力。
     二极管阵列检测器(DAD)和紫外/可见检测器(UV/VIS)都是液相色谱(包括离子色谱)中常见的光学检测器。二极管阵列检测器可以实时扫描全光谱吸收图,因此可以判断色谱峰中是否有干扰存在,这是紫外/可见检测器所不具备的优势;特别是对于基体复杂、有潜在光谱干扰(例如有颜色的)的样品来说,二极管阵列检测器具备更强的抗干扰能力。然而,二极管阵列检测器需要用到较复杂的光谱处理软件,使用难度较大;另外由于光路设计的缘故使得噪声较大,检出限不尽如人意。PRIN-CEN充分了解痕量六价铬分析项目对仪器的要求,同时深入研究了二极管阵列检测器光路设计,并且按照痕量六价铬分析的要求对硬件和软件都进行了改良,从而推出了Trace Light Detector 它将实时干扰扣除技术和高强度光源/长光程流通池技术相融合(长光程流通池是CEN/TC 52/WG 5/TG 2 N 162EN 71-3 - Proposal for Chromium VI test method中推荐的配置)。实践证明Trace Light Detector具有出色的灵敏度和超强的抗干扰能力。
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